Title of article
Impact of Silicon Wafer Orientation on the Performance of Metal Source/Drain MOSFET in Nanoscale Regime: a Numerical Study
Author/Authors
Ahangari، Z نويسنده Department of Electrical Engineering, Science and Research Branch, Islamic Azad University, Tehran, Iran , , Fathipour، M نويسنده School of Electrical and Computer Engineering University of Tehran, Tehran ,
Issue Information
فصلنامه با شماره پیاپی 0 سال 2012
Pages
7
From page
477
To page
483
Abstract
مطالعه جامع سد شاتكي MOSFET (SBMOSFET) ناشي از مقياس گذاري به منظور تعيين نقش جهت گيري ويفر و پارامترهاي ساختاري در عملكرد اين دستگاه در فرماليسم تابع سبز بدون تعادل انجام مي-شود. حد كوانتومي ارتفاع سد شاتكي موثر (SBH) را افزايش مي دهد. جهت گيري (100) ارتفاع سد شاتكي موثر كمتر در مقايسه با ويفرهاي (110) و (111) را نشان مي دهد. در طول كانال مقياس بدنه فوق العاده نازك SBMOSFET كاهش به رژيم در مقياس نانو، به خصوص براي SBHs موثر زياد، حد كوانتومي در امتداد كانال و انتشار از طريق حالات رزونانس گسسته را ايجاد كرده است. ما امكان تونل زني رزونانس در SBMOSFET را مورد مطالعه قرار داديم. جهت تونل زدن تشديدي (110) و (111) در ولتاژهاي ورودي بالاتر ظاهر مي شوند.
Abstract
A comprehensive study of Schottky barrier MOSFET (SBMOSFET)
scaling issue is performed to determine the role of wafer orientation
and structural parameters on the performance of this device within
Non-equilibrium Greenʹs Function formalism. Quantum confinement
increases the effective Schottky barrier height (SBH). (100)
orientation provides lower effective Schottky barrier height in
comparison with (110) and (111) wafers. As the channel length of
ultra thin body SBMOSFET scales down to nanoscale regime,
especially for high effective SBHs, quantum confinement is created
along the channel and current propagates through discrete resonance
states. We have studied the possibility of resonant tunneling in
SBMOSFET. Resonant tunneling for (110) and (111) orientations
appear at higher gate voltages.
Journal title
Journal of NanoStructures
Serial Year
2012
Journal title
Journal of NanoStructures
Record number
1018456
Link To Document