مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - An improved testing scheme for catastrophic fault patterns

Title of article :

An improved testing scheme for catastrophic fault patterns

Author/Authors :

A. Nayak، نويسنده , , J. Ren، نويسنده , , N. Santoro، نويسنده ,

Issue Information :

دوهفته نامه با شماره پیاپی سال 2000

Pages :

From page :

199

To page :

206

Keywords :

Algorithms , Catastrophic faults , Testing schemes , Redundant arrays

Journal title :

Information Processing Letters

Serial Year :

2000

Journal title :

Information Processing Letters

Record number :

129196

Link To Document :