مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Improving test quality using robust unique input/output circuit sequences (UIOCs)

Title of article :

Improving test quality using robust unique input/output circuit sequences (UIOCs)

Author/Authors :

Qiang Guo، نويسنده , , Robert M. Hierons، نويسنده , , Mark Harman، نويسنده , , Karnig Derderian، نويسنده ,

Issue Information :

ماهنامه با شماره پیاپی سال 2006

Pages :

From page :

696

To page :

707

Keywords :

Fault masking , Test quality , B-UIOs , UIOCs , FSMs , F-UIOs , Conformance test

Journal title :

Information and Software Technology

Serial Year :

2006

Journal title :

Information and Software Technology

Record number :

135227

Link To Document :