Title of article
Improving test quality using robust unique input/output circuit sequences (UIOCs)
Author/Authors
Qiang Guo، نويسنده , , Robert M. Hierons، نويسنده , , Mark Harman، نويسنده , , Karnig Derderian، نويسنده ,
Issue Information
ماهنامه با شماره پیاپی سال 2006
Pages
12
From page
696
To page
707
Keywords
Fault masking , Test quality , B-UIOs , UIOCs , FSMs , F-UIOs , Conformance test
Journal title
Information and Software Technology
Serial Year
2006
Journal title
Information and Software Technology
Record number
135227
Link To Document