Author/Authors :
Qin، نويسنده , , Z.H. and Chen، نويسنده , , Y.B. and Sheng، نويسنده , , H.Y and Wu، نويسنده , , L.H. and Liu، نويسنده , , J.B. and Zhuang، نويسنده , , B.A. and Jiang، نويسنده , , X.S. and Zhao، نويسنده , , Y.B. and Zhu، نويسنده , , K.J. and Yan، نويسنده , , Z.K. and Chen، نويسنده , , C. and Xu، نويسنده , , M.H. and Wang، نويسنده , , L. and Ma، نويسنده , , X.Y. and Tang، نويسنده , , X. and Liu، نويسنده , , R.G. and Jin، نويسنده , , Y. and Zhu، نويسنده , , Q.M. and Zhang، نويسنده , , G.F. and Wu، نويسنده , , Z. and Li، نويسنده , , R.Y. and Zhao، نويسنده , , P.P. and Dai، نويسنده , , H.L. and Li، نويسنده , , X.P. and Li، نويسنده , , J.، نويسنده ,
Keywords :
Beam test , Prototype , Drift chamber , Readout electronics , RESOLUTION , Threshold , BESIII