Analyse du contraste dʹun sous-joint de torsion (0 0 1) dans le silicium en MET à deux ondes

Résumé age dʹun sous-joint de torsion (0 0 1) du silicium, obtenue en MET à deux ondes, est interprétée de façon quantitative au moyen de la théorie dynamique de la diffraction des électrons. Les caractéristiques du contraste sont discutées en fonction de lʹépaisseur de la lame mince et des effets éventuels de relaxation élastique du sous-joint dans la lame mince. Pour citer cet article : R. Bonnet et al., C. R. Physique 3 (2002) 657–663. titative analysis of the image of a low angle (0 0 1) twist boundary in silicon is performed using the two-beam dynamical theory of electron diffraction. The contrast features are discussed as functions of the thickness of the foil and possible elastic relaxation effects of the low angle twist boundary in the thin foil. To cite this article: R. Bonnet et al., C. R. Physique 3 (2002) 657–663.