Title of article :
Unsupervised spatial pattern classification of electrical-wafer-sorting maps in semiconductor manufacturing
Author/Authors :
F. Di Palma، نويسنده , , G. De Nicolao، نويسنده , , G. Miraglia، نويسنده , , E. Pasquinetti، نويسنده , , F. Piccinini، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Keywords :
Self organizing feature maps , Adaptive resonance theory , semiconductor manufacturing , Wafer maps
Journal title :
PATTERN RECOGNITION LETTERS
Journal title :
PATTERN RECOGNITION LETTERS