مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - An in-depth empirical analysis of patent citation counts using zero-inflated count data model: The case of KIST

Title of article :

An in-depth empirical analysis of patent citation counts using zero-inflated count data model: The case of KIST

Author/Authors :

Yong-Gil Lee، نويسنده , , Jeong-Dong Lee، نويسنده , , Yong-Il Song، نويسنده , , Se-Jun Lee ، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2007

Pages :

From page :

To page :

Journal title :

Scientometrics

Serial Year :

2007

Journal title :

Scientometrics

Record number :

265605

Link To Document :