مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Test selection for a nondeterministic FSM

Title of article :

Test selection for a nondeterministic FSM

Author/Authors :

Mark I. Hwang، نويسنده , , T. Kim، نويسنده , , S. Hong، نويسنده , , J. Lee، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2001

Pages :

From page :

1213

To page :

1223

Keywords :

Nondeterministric Finite-State Machines , Protocol conformance testing , Software testing , Minimal test length

Journal title :

Computer Communications

Serial Year :

2001

Journal title :

Computer Communications

Record number :

309397

Link To Document :