Author/Authors :
F. Nguyen، نويسنده , , T، نويسنده , , S. Garambois، نويسنده , , D. Jongmans، نويسنده , , E. Pirard، نويسنده , , M.H. Loke، نويسنده ,
Keywords :
Fault survey , image processing , Active faults , Near-surface geophysics , Electrical tomography
