Author/Authors :
Tie Lin، نويسنده , , J. L. Sun، نويسنده , , F. W. Shi، نويسنده , , Z. G. Hu، نويسنده , , J. Chen، نويسنده , , Junhao Chu، نويسنده ,
Keywords :
Thin films , SCANNING ELECTRON MICROSCOPY , Optical properties , Photoelectron spectroscopies
