Title of article
Influences of thick film inhomogeneities on the ellipsometric parameters
Author/Authors
K. Roodenko، نويسنده , , M. Gensch، نويسنده , , H.M. Heise، نويسنده , , U. Schade، نويسنده , , N. Esser، نويسنده , , K. Hinrichs، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2006
Pages
6
From page
39
To page
44
Keywords
Degree of polarization , Infrared (IR) , Ellipsometry , Synchrotron radiation source , Partial coherence , polymer
Journal title
Infrared Physics & Technology
Serial Year
2006
Journal title
Infrared Physics & Technology
Record number
328044
Link To Document