Influences of thick film inhomogeneities on the ellipsometric parameters

K. Roodenko، نويسنده , , M. Gensch، نويسنده , , H.M. Heise، نويسنده , , U. Schade، نويسنده , , N. Esser، نويسنده , , K. Hinrichs، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2006

6

39

44

Degree of polarization , Infrared (IR) , Ellipsometry , Synchrotron radiation source , Partial coherence , polymer

Infrared Physics & Technology

2006

Infrared Physics & Technology

328044