مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Measurement of beam quality factor (M2) by slit-scanning method

Title of article :

Measurement of beam quality factor (M2) by slit-scanning method

Author/Authors :

Jiaan Zheng، نويسنده , , Shengzhi Zhao، نويسنده , , Qingpu Wang، نويسنده , , Xingyu Zhang and Lei Chen، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2001

Pages :

From page :

213

To page :

217

Keywords :

Slit-scanning method , M2 factor measurement

Journal title :

OPTICS & LASER TECHNOLOGY

Serial Year :

2001

Journal title :

OPTICS & LASER TECHNOLOGY

Record number :

334767

Link To Document :