مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Characterization of power electronics system interconnect parasitics using time domain reflectometry

Title of article :

Characterization of power electronics system interconnect parasitics using time domain reflectometry

Author/Authors :

Huibin Zhu، نويسنده , , Hefner، نويسنده , , A.R، نويسنده , , Jr، نويسنده , , Lai، نويسنده , , J.-S.، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1999

Pages :

From page :

622

To page :

628

Keywords :

interconnectparasitics , power inverter , time domain reflectometry. , Device packaging , IGBT model

Journal title :

IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS

Serial Year :

1999

Journal title :

IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS

Record number :

340008

Link To Document :