Author/Authors :
Humbel، Stéphane نويسنده , , O، نويسنده , , Galster، نويسنده , , N، نويسنده , , Dalibor، نويسنده , , T، نويسنده , , Wikstrom، نويسنده , , T، نويسنده , , Bauer، نويسنده , , F.D، نويسنده , , Fichtner، نويسنده , , W.، نويسنده ,
Keywords :
P-i-N diodes , reduction ofanode injection efficiency , soft recovery. , Local lifetime control