Title of article :
Reliability Analysis and Modeling of Power MOSFETs in the 42-V-PowerNet .
Author/Authors :
A. Castellazzi، نويسنده , , Y. C. Gerstenmaier، نويسنده , , R. Kraus، نويسنده , , and G. K. M. Wachutka، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2006
Keywords :
Electrothermal effects , powermetal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs) , modeling , Reliability.
Journal title :
IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS
Journal title :
IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS
