Title of article
Experimental Analysis of Punch-Through Conditions in Power P–I–N Diodes
Author/Authors
T. B. Salah، نويسنده , , C. Buttay، نويسنده , , G. B. Allard، نويسنده , , H. Morel، نويسنده , , S. Ghedira، نويسنده , , K. Besbes، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2007
Pages
8
From page
13
To page
20
Keywords
punch-through (PT) , reverse-recovery. , avalanche , -type , intrinsic , -type ( – – )diode
Journal title
IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS
Serial Year
2007
Journal title
IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS
Record number
340976
Link To Document