مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Characterization of crosstalk noise in submicron CMOS integrated circuits: an experimental view

Title of article :

Characterization of crosstalk noise in submicron CMOS integrated circuits: an experimental view

Author/Authors :

Fourniols، نويسنده , , J.-Y.، نويسنده , , Roca، نويسنده , , M.، نويسنده , , Caignet، نويسنده , , F.، نويسنده , , Sicard، نويسنده , , E.، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1998

Pages :

From page :

271

To page :

280

Keywords :

integrated circuitsnoise , crosstalk , noise measurement. , interconnections

Journal title :

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY

Serial Year :

1998

Journal title :

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY

Record number :

341237

Link To Document :