Title of article :
Predicting the Breakdown Behavior of Microcontrollers Under EMP/UWB Impact Using a Statistical Analysis
Author/Authors :
M. Camp، نويسنده , , H. Gerth، نويسنده , , H. Garbe، نويسنده , , H. Haase، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2004
Pages :
12
From page :
368
To page :
379
Keywords :
Electromagnetic field threat , intentional electromagneticinterference (IEMI) , susceptibility of electronics.
Journal title :
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
Serial Year :
2004
Journal title :
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
Record number :
341460
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=341460
بازگشت