Title of article :
Specular reflectance: A convenient tool for polymer characterization by FTIR-microscopy?
Author/Authors :
J. M. Chalmers، نويسنده , , N. J. Everall ، نويسنده , , S. Ellison، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 1996
Pages :
14
From page :
315
To page :
328
Keywords :
FTIR-microscopy , specular reflectance , Polymers.
Journal title :
Micron
Serial Year :
1996
Journal title :
Micron
Record number :
356649
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=356649
