مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Use of transmitted color to calibrate the thickness of silicon samples

Title of article :

Use of transmitted color to calibrate the thickness of silicon samples

Author/Authors :

J. P. McCaffrey، نويسنده , , B. T. Sullivan، نويسنده , , J. W. Frase ، نويسنده , , D. L. Callahan، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1996

Pages :

From page :

407

To page :

411

Keywords :

TEM , Color , Optical transmission , Silicon , TEM sample preparation

Journal title :

Micron

Serial Year :

1996

Journal title :

Micron

Record number :

356661

Link To Document :