Author/Authors :
N. A. Kiselev and D. N. Zakharov ، نويسنده , , J. L. Hutchison، نويسنده , , A. N. Stepanova، نويسنده , , A. N. Kiselev ، نويسنده , , E. I. Givargizov، نويسنده ,
Keywords :
HREM , SEM , Epitaxial growth , Si nanometric tips , VLS technique , profile imaging , atomic structure of tips , facetting.