Title of article :
Transmission electron microscopy characterization of InAlSb/InSb bilayers and superlattices
Author/Authors :
M. D. Robertson، نويسنده , , J. M. Corbett، نويسنده , , J. B. Webb، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 1997
Pages :
9
From page :
175
To page :
183
Keywords :
crystal growth , InAlSb , lnSb , Semiconductor , bilayer , Superlattice , electron microscopy , Electron diffraction , diffraction contrast , magnetron sputter epitaxy , High resolution
Journal title :
Micron
Serial Year :
1997
Journal title :
Micron
Record number :
356684
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=356684
بازگشت