Title of article :
EELS in the STEM: Determination of materials properties on the atomic scale
Author/Authors :
N. D. Browning، نويسنده , , D. J. Wallis، نويسنده , , P. D. Nellist ، نويسنده , , S. J. Pennycook، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 1997
Pages :
16
From page :
333
To page :
348
Keywords :
nanoscale particles , interfaces , Defects , Z-contrast imaging , EELS , STEM
Journal title :
Micron
Serial Year :
1997
Journal title :
Micron
Record number :
356698
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=356698