Title of article :
Quantitative analysis of electron spectroscopic imaging series
Author/Authors :
J. Mayer، نويسنده , , U. Eigenthaler، نويسنده , , J. M. Plitzko ، نويسنده , , F. Dettenwanger، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 1997
Pages :
10
From page :
361
To page :
370
Keywords :
electron spectroscopic imaging , energy filtering transmission electron microscopy , Quantitative analysis , specimen thickness measurement , contamination layer thickness , concentrationratios
Journal title :
Micron
Serial Year :
1997
Journal title :
Micron
Record number :
356700
Link To Document :
بازگشت