Title of article
Use of a mass-thickness marker to estimate systematic errors and statistical noise in the detection of phosphorus by electron spectroscopic imaging
Author/Authors
K. Richter، نويسنده , , A. Haking، نويسنده , , H. Troester، نويسنده , , E. Spiess، نويسنده , , H. Spring، نويسنده , , W. Probst، نويسنده , , P. Schultz، نويسنده , , J. Witz ، نويسنده , , M. Trendelenburg، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 1997
Pages
12
From page
407
To page
418
Keywords
EFTEM , ESI , Phosphorus , two-window difference method , three-window power-lawmethod , jump ratio , mass-thickness contrast , noise. , electron spectroscopic imaging
Journal title
Micron
Serial Year
1997
Journal title
Micron
Record number
356705
Link To Document