مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Electron microscopy of high-Tc Josephson junctions formed in the epitaxial layer ramp-edge geometry: YBCO/barrier/YBCO

Title of article :

Electron microscopy of high-Tc Josephson junctions formed in the epitaxial layer ramp-edge geometry: YBCO/barrier/YBCO

Author/Authors :

K. L. Merkle، نويسنده , , Y. Huang، نويسنده , , S. Rozeveld، نويسنده , , K. Char ، نويسنده , , B. H. Moeckly، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1999

Pages :

From page :

539

To page :

559

Keywords :

Metallic oxide barriers , YBCO microstructures , Ramp-edge junctions

Journal title :

Micron

Serial Year :

1999

Journal title :

Micron

Record number :

356811

Link To Document :