مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Electron microscopy of reverse biased p

Title of article :

Electron microscopy of reverse biased p–n junctions

Author/Authors :

M. Beleggia، نويسنده , , D. Cristofori، نويسنده , , P. G. Merli ، نويسنده , , G. Pozzi، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2000

Pages :

From page :

231

To page :

236

Keywords :

p–n junctions , Lorentz microscopy , Fresnel diffraction , Electron microscopy

Journal title :

Micron

Serial Year :

2000

Journal title :

Micron

Record number :

356838

Link To Document :