Title of article
Electron microscopy of reverse biased p–n junctions
Author/Authors
M. Beleggia، نويسنده , , D. Cristofori، نويسنده , , P. G. Merli ، نويسنده , , G. Pozzi، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2000
Pages
6
From page
231
To page
236
Keywords
p–n junctions , Lorentz microscopy , Fresnel diffraction , Electron microscopy
Journal title
Micron
Serial Year
2000
Journal title
Micron
Record number
356838
Link To Document