Title of article
Strain-driven morphology of Si1−xGex islands grown on Si(100)
Author/Authors
N. Pinto، نويسنده , , R. Murri، نويسنده , , R. Rinaldi، نويسنده , , G. Barucca، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2000
Pages
7
From page
315
To page
321
Keywords
SiGe , islands , Atomic force microscopy , TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY , Energy dispersive spectroscopy , Strain , Defects , diffusion
Journal title
Micron
Serial Year
2000
Journal title
Micron
Record number
356849
Link To Document