Title of article :
A new type of scanning electron microscope using the coaxial backscattered electrons
Author/Authors :
C. Z. Jiang، نويسنده , , P. Morin، نويسنده , , N. Rosenberg، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2002
Keywords :
Compositionanalysis , Backscattered electron , Monte Carlo simulation , Backscattering coef®cient , Coaxial detection , Scanning electron microscope
