Title of article :
High-resolution transmission electron microscopy of phase formation and growth in metal–Si–Ge systems
Author/Authors :
L. J. Chen، نويسنده , , J. B. Lai، نويسنده , , C. S. Lee، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2002
Pages :
7
From page :
535
To page :
541
Keywords :
Metal , Si–Ge , Interfacial reactions
Journal title :
Micron
Serial Year :
2002
Journal title :
Micron
Record number :
357031
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=357031
