• Title of article

    Inelastic electron scattering observation using energy filtered transmission electron microscopy for silicon–germanium nanostructures imaging

  • Author/Authors

    R. Pantel، نويسنده , , S. Jullian، نويسنده , , D. Delille، نويسنده , , D. Dutartre، نويسنده , , A. Chantre، نويسنده , , O. Kermarrec، نويسنده , , Y. Campidelli ، نويسنده , , L. F. T. Z. Kwakman، نويسنده ,

  • Issue Information
    روزنامه با شماره پیاپی سال 2003
  • Pages
    9
  • From page
    239
  • To page
    247
  • Keywords
    Silicon–germanium , Energy filtered TEM , Electron spectroscopy imaging , STEM Z-contrast , Heterojunction bipolar transistor
  • Journal title
    Micron
  • Serial Year
    2003
  • Journal title
    Micron
  • Record number

    357076

    • Link To Document
    https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=357076