Title of article
Microstructural and compositional characteristics of GaN films grown on a ZnO-buffered Si (111) wafer
Author/Authors
X. H. Luo، نويسنده , , R. M. Wang ، نويسنده , , X. P. Zhang، نويسنده , , H. Z. Zhang، نويسنده , , D.z P. Yu ، نويسنده , , M. C. Luo، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2004
Pages
6
From page
475
To page
480
Keywords
Transmission electron microscopy , Electron energy loss spectroscopy , Molecular beam epitaxy , Gallium nitride
Journal title
Micron
Serial Year
2004
Journal title
Micron
Record number
357184
Link To Document