مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - The effect of beam diameter on the electron skirt in a high pressure scanning electron microscope

Title of article :

The effect of beam diameter on the electron skirt in a high pressure scanning electron microscope

Author/Authors :

R. Belkorissat، نويسنده , , A. Kadoun، نويسنده , , B. Khelifa، نويسنده , , C. Mathieu، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2004

Pages :

From page :

543

To page :

547

Keywords :

High pressure scanning electron microscope , Monte Carlo , Electron scattering , Skirting , Electron profile

Journal title :

Micron

Serial Year :

2004

Journal title :

Micron

Record number :

357189

Link To Document :