Title of article
An order(N) tight-binding molecular dynamics study of intrinsic defect diffusion in silicon
Author/Authors
Bruce W. Roberts، نويسنده , , Weiwei Luo، نويسنده , , Kurt A. Johnson، نويسنده , , Paulette Clancy، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 1999
Pages
9
From page
67
To page
75
Keywords
ntrinsic defect diffusion , Silicon , Tight-binding molecular dynamics
Journal title
Chemical Engineering Journal
Serial Year
1999
Journal title
Chemical Engineering Journal
Record number
365095
Link To Document