Electrostatic Discharge Protection for RF Integrated Circuits: New ESD Design Challenges

H.G. Feng، نويسنده , , R.Y. Zhan، نويسنده , , G. Chen، نويسنده , , Q. Wu and Albert Z. Wang ، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2004

15

5

19

RF ESD protection , parasitic effect , s-parameter

Analog Integrated Circuits and Signal Processing

2004

Analog Integrated Circuits and Signal Processing

367412