مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Automatic test generation algorithms for analogue circuits

Title of article :

Automatic test generation algorithms for analogue circuits

Author/Authors :

Soma، نويسنده , , M.، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1996

Pages :

From page :

366

To page :

373

Journal title :

I E T Circuits, Devices and Systems

Serial Year :

1996

Journal title :

I E T Circuits, Devices and Systems

Record number :

371138

Link To Document :