Title of article :
Logical modelling of delay degradation effect in static CMOS gates
Author/Authors :
Bellido-Diaz، نويسنده , , M.J.; Juan-Chico، نويسنده , , J.; Acosta، نويسنده , , A.J.; Valencia، نويسنده , , M.; Huertas، نويسنده , , J.L.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2000
Pages :
11
From page :
107
To page :
117
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Serial Year :
2000
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Record number :
371360
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=371360
