Title of article :
SRAM transparent testing methodology using dynamic power supply current
Author/Authors :
Kim، نويسنده , , H.-S.; Yoon، نويسنده , , D.-H.; Kang، نويسنده , , S.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2001
Pages :
6
From page :
217
To page :
222
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Serial Year :
2001
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Record number :
371434
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=371434
