Title of article :
Flexible embedded test solution for high-speed analogue front-end architectures
Author/Authors :
Lechner، نويسنده , , A.; Burbidge، نويسنده , , M.J.; Richardson، نويسنده , , A.M.D.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2004
Pages :
11
From page :
359
To page :
369
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Serial Year :
2004
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Record number :
371648
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=371648
