Title of article :
Fault characterisation and testability issues of complementary pass transistor logic circuits
Author/Authors :
Faisal، نويسنده , , M.; Hasib، نويسنده , , A.; Rashid، نويسنده , , A.B.M.H.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Pages :
8
From page :
215
To page :
222
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Serial Year :
2005
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Record number :
371710
Link To Document :
بازگشت