• Title of article

    IOC-LP: hybrid test data compression/ decompression scheme for low power testing

  • Author/Authors

    Chun، نويسنده , , S.; Kim، نويسنده , , Y.; Yang، نويسنده , , M.-H.; Kang، نويسنده , , S.، نويسنده ,

  • Issue Information
    روزنامه با شماره پیاپی سال 2006
  • Pages
    8
  • From page
    391
  • To page
    398
  • Journal title
    I E T Circuits, Devices and Systems
  • Serial Year
    2006
  • Journal title
    I E T Circuits, Devices and Systems
  • Record number

    371842