Author/Authors :
R. Fink، نويسنده , , M. R. Weiss، نويسنده , , R. Fink and E. Umbach، نويسنده , , D. Preikszas، نويسنده , , H. Rose، نويسنده , , R. Spehr، نويسنده , , P. Hartel، نويسنده , , David W. Engel، نويسنده , , R. Degenhardt، نويسنده , , R. Wichtendahl، نويسنده , , H. Kuhlenbeck، نويسنده , , W. Erlebach، نويسنده , , K. Ihmann، نويسنده , , R. Schlogl ، نويسنده , , H. -J. Freund، نويسنده , , A. M. Bradshaw، نويسنده , , G. Lilienkamp and T. Schmidt، نويسنده , , Th. Schmidt، نويسنده , , E. Bauer and G. Benner، نويسنده ,
Keywords :
SMART , LEEM , Ultrahigh-resolution spectromicroscope , Small-spot LEED , XPEEM
