Author/Authors :
K. Nakatsuji، نويسنده , , H. Daimon، نويسنده , , T. Furuhata، نويسنده , , H. Takagi، نويسنده , , M. Fujikawa، نويسنده , , S. Suga، نويسنده , , T. Miyahara، نويسنده , , A. Yagishita، نويسنده , , C.-H. Solterbeck and W. Schattke، نويسنده ,
Keywords :
Two-dimensional measurement , Si(00l) , Valence band , CDAD