Author/Authors :
T. Abukawa، نويسنده , , T. Shimatani، نويسنده , , M. Kimura، نويسنده , , Y. Takakuwa، نويسنده , , N. Muramatsu، نويسنده , , T. Hanano، نويسنده , , M. Shiga and T. Goto ، نويسنده , , W.R.A. Huff and S. Kono، نويسنده ,
Keywords :
Electron diffraction , MEED , Si dimers , Si(001) surface , Surface structure analysis