Fundamental processes of radiation damage of benzene solid studied by Auger electron photoion coincidence spectroscopy

I. Shimoyama، نويسنده , , T. Mochida، نويسنده , , Y. Otsuki، نويسنده , , H. Horiuchi، نويسنده , , S. Saijyo، نويسنده , , K. Nakagawa، نويسنده , , M. Nagasono، نويسنده , , S. Tanaka and K. Mase، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 1998

7

793

799

Auger electron photoion coincidence (AEPICO) , Auger.electron spectroscopy , Photoemission , Inner-shell excitation , Dissociation , Benzene

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

1998

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

378991