Title of article :
XPS, USXS and PLS investigations of porous silicon
Author/Authors :
S.I. Kurganskii and E.P. Domashevskaya، نويسنده , , V.M. Kashkarov، نويسنده , , E.Yu. Manukovskii، نويسنده , , A.V. Shchukarev and V.A. Terekhov، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 1998
Pages :
4
From page :
969
To page :
972
Keywords :
: X-ray photoelectron spectra , x-ray spectra , Porous silicon
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Serial Year :
1998
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Record number :
379019
Link To Document :
بازگشت