مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Resonant Auger spectroscopy on SiF4 and SiCl4 molecules excited around the silicon 2p edge

Title of article :

Resonant Auger spectroscopy on SiF4 and SiCl4 molecules excited around the silicon 2p edge

Author/Authors :

C. Miron، نويسنده , , R. Guillemin، نويسنده , , N. Leclercq and D. L. Hansen، نويسنده , , P. Morin and M. Simon، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1998

Pages :

From page :

To page :

103

Keywords :

Resonant Auger spectroscopy , Photoelectron spectroscopy , Decay paths , Electron background

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Serial Year :

1998

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Record number :

379088

Link To Document :