Title of article :
Photoelectron diffraction study of the surfaces of Si(111)√3×√3–Al and –In with Mo Mζ and Cr Lα lines
Author/Authors :
S. Sumitani، نويسنده , , T. Abukawa، نويسنده , , R. Kosugi، نويسنده , , S. Suzuki، نويسنده , , S. Sato and S. Kono، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 1999
Pages :
6
From page :
245
To page :
250
Keywords :
Photoelectron diffraction , Mo M , AL , I33I3 surface , Cr L , In , Si(111) surface , XPD
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Serial Year :
1999
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Record number :
379262
Link To Document :
بازگشت