مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - XPS studies and factor analysis of PbS nanocrystal-doped SiO2 thin films

Title of article :

XPS studies and factor analysis of PbS nanocrystal-doped SiO2 thin films

Author/Authors :

R. Reiche، نويسنده , , R. Thielsch، نويسنده , , S. Oswald and K. Wetzig، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1999

Pages :

From page :

161

To page :

171

Keywords :

XPS factor analysis , Small size clusters , PbS , SiO , Sputtering effects

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Serial Year :

1999

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Record number :

379398

Link To Document :