Title of article :
Soft X-ray magnetic reflection spectroscopy at the 3p absorption edges of thin Fe films
Author/Authors :
M. Hecker and A. John، نويسنده , , P.M. Oppeneer، نويسنده , , S. Valencia، نويسنده , , H.-Ch. Mertins and C.M. Schneider، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Keywords :
XMLD , T-MOKE , Magnetic scattering , Resonant X-ray scattering
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Journal title :
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
